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两箱高低温冲击试验箱

  • 简要描述:两箱高低温冲击试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件、电线、电缆等在高低温快速交变环境下,确定组件、设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力
  • 品牌:宝试
  • 厂商性质:生产厂家
  • 访问次数:1570
  • 更新时间:2023-11-07
  • 产品简介

   一、两箱高低温冲击试验箱简介:

  两箱高低温冲击试验箱根据待测试样品的特殊性,分为两箱式动态冲击和三箱式静态冲击,本产品可做冷热冲击,也可以做单独高温或低温使用。是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

  二、两箱高低温冲击试验箱技术参数

型号 BS-40I BS-80I BS-100I BS-150I BS-252I BS-450I
内箱尺寸W*H*D(mm) 400*350*300 500*400*400 500*450*450 600*500*500 700*600*600 800*750*750
外箱尺寸W*H*D(mm) 1100*1930*1450 1200*2000*1550 1500*1950*1600 1300*1230*1670 1750*2120*1970 1900*2270*2210
重量(KG) 700 900 1100 1200 1400 1900
温度范围 (A-45℃  B-55℃  C-65℃    高温区: 60℃-150℃   低温区:-10℃--65℃  )
升温时间(蓄热区) RT-200℃约35min
降温时间(蓄冷区) RT—70℃约55min
温度回复/切换时间 ≤5min   /  ≤5sec以内
温度精度/分布精度 ±0.5℃     ±2.5% ℃
冷却方式 风、水冷式/双断压缩机
电源 AC380V ±10%V 50HZ/60HZ

   三、两箱高低温冲击试验箱满足标准:

  1.GJB150.5A-2009温度冲击试验

  2.GB/2423.22-2012/IEC60068-2-14:2009温度冲击试验

  3.GB/T2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则

  4.GJB360B-2009温度冲击试验

  5.GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温

  6.GB/T2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温

  7.GB/T10589-2008低温试验箱技术条件

  8.GB/T11158-2008高温试验箱技术条件

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